贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平，升级版PIDS实用新型专利技术（专利号：4953978；5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术，真正实现10nm粒径测量；新型的干、湿进样模块，“即插即用”，满足不同的分析要求，灵活便利；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作，仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验！

技术参数：

• 粒径范围：10纳米-3500微米 （峰值）
• 主光路激光光源：光纤连接的固体激光器
• 检测器：132枚独立物理角度检测器
• 真实分析通道：136个
• 多波长测量：475nm、613nm、785nm及900nm
• 光学理论模型：全程Mie理论；Fraunhofer理论
• 准确性误差：小于+/- 0.5%
• 重现性误差：小于+/- 0.5%

• *本产品仅用于科研，不用于临床诊断。

• 优于ISO 13 320技术标准
• 符合FDA的21 CFR Part 11标准
• 检测器数量更多，高达132枚独立物理位置检测器，对应高达136个真实数据通道，能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，确保不缺漏丝毫信息，快速、准确的真实粒度测量。
• 专利设计的“X”型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，不管单峰、多峰，准确分析粒度分布。
• 全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的唯一报告。
• 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。
• PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。
• 纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。
• 新一代固体激光光源，无需预热，7万小时以上开机使用寿命 。
• 并行式信号采集与传输，确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。
• 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。
• 多种自动化样品分散系统，“即插即用”，数秒即可完成切换，高效便利。
• 新一代触摸屏设计ADAPT分析软件，操作更直观，无需操作经验，简单三步完成测量，直观醒目的导航轮，仅需一步实现数据显示与导出。
• ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色，自动合格/不合格管理，实现直接质控。
• 软件配有强大的光学参数数据库，具有创新的“Zero-Time”即时光学模型系统，只需一秒即可建立新的光学模型，提供客观准确的分析报告。
• 仪器配有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。